数显台式薄膜测厚仪

对于塑料薄膜来讲，厚度是影响力学性能、阻隔性的因素之一，需要在质量和成本上的指标。塑料薄膜厚度是指一定条件下测得的试样的界面距离。鉴定标准只适用于光面、未经压花的薄膜。厚度测定的目的是为了弄清薄膜厚度的差异，同时，也是进行其它测试时所必需的数据之一。测定时所施加压力的大小具有重要意义，薄膜越软则影响越大，软质薄膜的测定压力应为0.25公斤/厘米2，硬质薄膜为3公斤/厘米2。大于上述测定压力，薄膜会受压缩，另一方面，也应防止将测定器过快触及被测薄膜，否则，使软质薄膜变形。上述情况均会影响测定结果。测试时必须将薄膜平整地放在测定仪的测定位置上，必须定期复核厚度测定器的准确度。

塑料薄膜厚度检测用什么仪器设备？

 数显台式薄膜测厚仪THK-01主要适用于薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片、纸板等硬质和软质材料厚度准确测量，分辨率达0.1μm，本厚度测定仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。

 数显台式薄膜测厚仪THK-01THK-01主要参数

通用名称：测厚仪

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜）、50±1kPa(纸张)

接触面积：50mm²(薄膜)； 200mm² (纸张)；

薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：15Kg

参照标准

GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》

测厚仪生产厂家